Cp/Cpk/Pp/Ppk/Cm/Cmk之间的区别

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Cp：过程能力，仅适用于统计稳定过程，是过程在受控状态下的实际加工能力，不考虑过程的偏移，是过程固有变差（仅由于普通原因产生的变差）的 6σ 范围，式中 σ 通常用 R-bar/d2 或者 s-bar/ c4 来估计。所以过程能力是用过程在受控状态下短期数据计算的。因此又将过程能力称为“短期过程能力”，实际中常将短期省略。这个指数只是针对双边公差而计算的，对于单边公差没有意义。

计算公式：Cp=(USL-LSL)/6σ

Cpk：过程能力指数，是在过程有偏移情况下的过程能力，前提是要过程稳定且数据是正态分布，而且数据应该在 25 组以上（建议最少不要低于 20 组，数据组越少风险越大），只考虑过程受普通原因的影响。因为过程只受到普通原因变差影响是理想状态下的，从长期来说过程总会受到各种特殊原因的影响，所以又被称为短期过程能力，也叫潜在过程能力。Cpk 通过 CPU 或 CPL 的最小值来计算。

计算公式： CPU=(USL-X-bar)/3σ & CPL=(X-bar-LSL)/3σ

Pp：过程性能，是过程长期运行的实际加工能力，过程总变差（由子组内和子组间二种变差所引起的变化，如果过程处于不受控状态，过程总变差将包括特殊原因和普通原因）的 6σ 范围，式中 σ 通常用样本的标准差 s 来估计。此时不考虑过程是否受控。因此过程性能也称长期过程能力，也叫性能指数。计算公式 Pp=(USL-LSL)/6s

Ppk：过程性能指数，因为计算不需要过程稳定（因为在计算公式中已经考虑了普通和特殊两种原因的影响），所以在 PPAP 手册中要求在产品进行试生产过程不稳定时（此时过程受两种原因影响）用 Ppk 衡量过程能力，要求 Ppk>=1.67 才能进入量产阶段，所以又把 Ppk 称为初期能力指数。Ppk 通过 PPU 或 PPL 的最小值来计算，

计算公式 PPU=(USL-X-bar)/3s 和 PPL=(X-bar-LSL)/3s

很多公司由于对过程能力的一知半解，往往只要求计算 Cpk 的指数来衡量过程能力是否足够，事实上进入正常生产后应该通过 Cp\Cpk\Ppk 三个指数之间的差别来判断过程是否有问题，如果有问题是管理上还是技术上有问题，当 Cp>1.33 表明过程变差比较小，此时还要看 Cpk,当 Cp 和 Cpk 相差很大时表明过程有较大的偏移,需要做居中处理，再比较 Cpk 和 Ppk，如果两者相差不大表明受特殊因素的影响小，如果两者相差很大表明受特殊因素的影响很大，特殊因素的影响往往比较容易找到。如果 Cp 值本身就很小那说明过程受普通因素的变差影响大，此时若想提升过程能力往往需要更多的投入和更高的决策才能使问题得到解决。所以即使有时候 Cpk 值很高( 比如大于 2) ,如果其与 Cp\Ppk 相差较大的话还是需要对过程进行改进。如果 Cpk 比 Ppk 大很多往往一种可能是过程并没有受控，控制图上有异常点的出现，计算人员错用了结论。

Cm\Cmk：设备能力指数，单纯的用来衡量设备的能力情况，计算公式与 Cp\Cpk 相同，不同的是在进行样本采集时要求在稳定的过

程下固定除设备外的其他条件（在汽车行业应用较多）。

作者: FreeClashNode

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来源: www.freeclashnode.com

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